Moku:Pro多儀器并行模式-輕松構(gòu)建和配置您的測試臺

Moku:Pro最新發(fā)布多儀器并行模式，支持并行多通道可重構(gòu)儀器。第一次，用戶可以實現(xiàn)在芯片上運行多個研究級儀器互聯(lián)。通過Moku:Pro 多儀器并行模式用戶可將儀器放置在四個虛擬“插槽”中，動態(tài)添加或刪除 Moku:Pro 儀器到任何插槽。每個插槽都能夠連接至模擬輸入和輸出，讓您可以在單個 Moku:Pro 上運行整套儀器。在此模式下運行的儀器可通過低延遲、實時 30 Gb/s 信號路徑相互連接以構(gòu)建復(fù)雜的信號處理流程。模擬輸入、模擬輸出和相鄰儀器的連接能夠?qū)崿F(xiàn)運行時配置。結(jié)合 Moku 云編譯（即將發(fā)布）和多儀器并行模式，Moku:Pro 重新定義了測試和測量儀器的靈活性。

可配置儀器

• 任意波形發(fā)生器

• 頻率響應(yīng)分析儀

• 鎖相放大器

• 示波器

• PID 控制器

• 頻譜分析儀

• 波形發(fā)生器

硬件亮點

卓yue的低頻噪聲性能:全輸入帶寬下的噪聲500 μV RM

板載高穩(wěn)定時鐘 0.3 ppm

輸入到輸出延遲 < 650 ns

典型應(yīng)用

自動化測試序列

系統(tǒng)原型設(shè)計和仿真

閉環(huán)控制設(shè)計

光學(xué)計量學(xué)和光譜學(xué)

光學(xué)、成像和其他定制系統(tǒng)控制中心

量子計算

技術(shù)規(guī)格

四個模擬輸入通道

• 10位和18位ADC，具備隨頻率變化的信號混合功能
  

• 1.25 GSa/s 采樣率

• 輸入噪聲: 30 nV/√Hz @ 100 Hz

• 可選 300 MHz 或 600 MHz 模擬帶寬

• AC 或 DC耦合，輸入阻抗：50Ω 或 1MΩ

• 輸入范圍：400 mVpp、4 Vpp 或 40 Vpp




四個模擬輸出通道

• 16位，1.25 GSa/s DACs

• 輸出2 Vpp 高達 500 MHz, 10 Vpp 高達100 MHz










應(yīng)用亮點

Moku:Pro 的 PID 控制器提供亞微秒的輸入和輸出延遲，非常適合高速閉環(huán)控制器應(yīng)用。通過多儀器并行模式，可以實時PID控制器和頻率響應(yīng)分析儀并行以觀察和測量控制器的傳遞函數(shù)和脈沖響應(yīng)。還可以使用示波器和頻譜分析儀在時域和頻域中測量系統(tǒng)響應(yīng)。控制器中的調(diào)整都會實時反映在監(jiān)控儀器中。








「生成任意調(diào)制的信號」

通過結(jié)合任意波形發(fā)生器與多個波形發(fā)生器，Moku:Pro能夠輸出高穩(wěn)定性的復(fù)雜波形。任意波形可以連接至波形發(fā)生器的輸入端作為調(diào)制源。頻率、相位和幅度調(diào)制也可以同時添加到信號中。這消除了查找表計算步驟并能更好的控制調(diào)制和輸出信號。示波器或頻譜分析儀可添加到其它插槽中測量信號。





「多諧波鎖相放大器」

Moku:Pro的多儀器并行模式能夠同時運行高達四個鎖相放大器。每一個鎖相放大器能在基波、二次或更高次諧波進行解調(diào)。測量出的 R/θ 或 X/Y 分量也可以在最終儀器插槽中的示波器中進行比較或輸出至模擬輸出端口。