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鎢燈絲掃描電鏡是一種電子顯微鏡，它利用高能電子束掃描樣品表面，產生多種物理信號，如二次電子、背散射電子等，通過探測器收集這些信號并經放大后調制得到樣品表面的顯微圖像。
用途：
形貌觀察：通過鎢燈絲掃描電鏡可以觀察樣品的表面形貌，如表面粗糙度、顆粒大小等。
顯微結構分析：鎢燈絲掃描電鏡可以觀察樣品的顯微結構，如晶粒大小、晶界清晰度等。
斷口形貌分析：對于斷裂的樣品，鎢燈絲掃描電鏡可以觀察其斷口形貌，分析斷裂原因。
成分分析：鎢燈絲掃描電鏡可以通過電子束與樣品的相互作用，產生各種物理信息，如X射線、俄歇電子等，從而進行成分分析。
失效分析：對于失效的樣品，鎢燈絲掃描電鏡可以觀察其顯微結構和斷口形貌，分析失效原因。
應力分析：通過鎢燈絲掃描電鏡可以觀察樣品的應力分布，如殘余應力、工作應力等。
相分析：鎢燈絲掃描電鏡可以觀察樣品的相組成，如固溶體、化合物等。
織構分析：對于晶體材料，鎢燈絲掃描電鏡可以觀察其晶體取向和織構類型。
劃痕分析：對于表面處理樣品，鎢燈絲掃描電鏡可以觀察其劃痕形貌，分析表面處理效果。
尺寸測量：鎢燈絲掃描電鏡可以測量樣品的尺寸，如長度、寬度、高度等。
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