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邁可諾技術(shù)有限公司
主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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SPS系列MicroXact標準半自動探針臺 簡單介紹：MicroXact的半自動探針臺提供多種選擇，包括加熱/冷卻晶圓卡盤，標準或數(shù)字顯微鏡以及可編程平臺分度，為您的所有高效設(shè)備表征提供經(jīng)濟高效且易于使用的解決方案。晶圓級可靠性測試需求。這些半自動探針臺有三種選擇（標準，高精度和高速）。 產(chǎn)品型號：SPS系列 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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LCS-4000系列MicroXact分析探針臺配有激光切割系統(tǒng) 簡單介紹：LCS-4000系列分析探針臺配有激光切割系統(tǒng) 帶有集成激光切割系統(tǒng)的LCS-4000探針臺為用戶提供了半導(dǎo)體診斷切割，失效分析，修整，標記和頂層去除的大靈活性。所有這些功能都可以在微觀層面上進行，所有這些都在這一系統(tǒng)上進行，這提供了非常易于使用的高水平性能。 產(chǎn)品型號：LCS-4000系列 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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A4P系列A4P四點探針自動電阻率測繪系統(tǒng) 簡單介紹：A4P四點探針自動電阻率測繪系統(tǒng) A4P系列晶圓電阻率映射器使用經(jīng)過驗證的行業(yè)標準，可以快速，準確，可靠地測量樣品電阻率分布。MicroXact的四點探針通過使電流通過四點探頭的外部點并測量內(nèi)部點的電壓來測量半導(dǎo)體晶圓層的平均電阻。然后可以通過將薄層電阻乘以薄膜的厚度來找到電阻率的值，即賦予其電阻的材料的性質(zhì)。 產(chǎn)品型號：A4P系列 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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Model 200-6JFP 引線鍵合機200 簡單介紹：JFP 引線鍵合機200-6適用于在6英寸晶圓上分割元件。功能強大的，無振動，操作簡單，無需過多培訓(xùn)即可使用。包括數(shù)字十字準線的視頻集進行垂直定向； LCD屏幕可顯示參數(shù)，可通過編程輪進行選擇。 產(chǎn)品型號：Model 200-6 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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S100JFP鍵合機100Model 簡單介紹：JFP鍵合機100Model適用于3英寸晶圓的劃片 劃片機 100是一款*的設(shè)備，設(shè)計用于劃分精密模具，例如GaAs和硅芯片。劃片機 100非常靈活，使用劃線和斷裂順序，使成品模具保持清潔，不受損壞。 在斷開模式期間，當線性刀升高以沿著芯線斷裂時，劃片機 100使用聚酯薄膜來保持模具。薄膜可防止模具受到污染或壓力。所有參數(shù)均由控制鍵盤設(shè)定，設(shè)備堅固耐用，無振動，操作簡單，無需過多培訓(xùn)。 產(chǎn)品型號：S100 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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MPS MiniMPS 環(huán)氧樹脂鍵合機 簡單介紹：MPS 環(huán)氧樹脂鍵合機 小芯片和SMD零件組裝 MPS 是實現(xiàn)準確揀選和放置的精密設(shè)備。 刀架設(shè)計，搖頭，為膠合提供了一個簡單的解決方案...... 視頻接口兼容Ultra-HD相機，可調(diào)節(jié)數(shù)字放大倍率，靈活性大，小尺寸和大尺寸芯片都適用。 真正的垂直運動實現(xiàn)了高精度放置和真正的垂直相機定位。 側(cè)面攝像頭，提供過程錄像;攝像頭可以任意角度傾斜; 高倍率變焦功能，適用于非常小的設(shè)備或關(guān)鍵過 產(chǎn)品型號：MPS Mini 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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WB200JFP引線鍵合機 簡單介紹：WB-200系列JFP引線鍵合機作為多功能半自動焊線工具，用于研發(fā)，標準和小批量生產(chǎn)。 WB-200提供全手動Z向控制，用于標準設(shè)計或簡單維修，無需機械設(shè)置； 臺式，尺寸小巧； 所有配置：平面基板，堅固包裝； 強大的視頻/聚焦功能，兼容小鍵合圖案和多鍵高度應(yīng)用； 軟件訪問不受限制； 這是新一代JFP焊線機，具有增強的功能，是堅固可靠的機械設(shè)備。 產(chǎn)品型號：WB200 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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PL600NIL納米壓印機 簡單介紹：EZI UV NIL納米壓印機 EZI 紫外曝光納米壓印系統(tǒng) EZ Imprinting推出了一款臺式獨立納米壓印系統(tǒng)：PL系列400/600. EZImprinting是一種超高產(chǎn)率（ 99％）納米壓印光刻系統(tǒng)，帶有低于10納米的分辨率和一步自動釋放功能。 產(chǎn)品型號：PL600 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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SEMI-KLEENSEMI-KLEEN 等離子清洗儀 簡單介紹：遠程等離子清潔的原理 遠程等離子源需安裝在要被清潔的真空腔室上，控制器向遠程離子源提供射頻能量。射頻電磁場能激發(fā)等離子體，分解輸入氣體而產(chǎn)生氧或氫的活性基，活性基會擴散到下游的真空腔室，并與其中的污染物發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，反應(yīng)產(chǎn)物能輕易地被抽走。遠程等離子清洗機可同時清潔真空系統(tǒng)和樣品。 產(chǎn)品型號：SEMI-KLEEN 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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EM-KLEENEM遠程等離子清潔儀 簡單介紹：美國PIE出品的EM遠程等離子清潔儀，廣泛用于SEM掃描電鏡,FIB聚焦離子束雙束電鏡,TEM透射電鏡,XPS_X射線光電子能譜分析儀,ALD原子層沉積系統(tǒng),CD-SEM, EBR, EBI, EUVL和其它高真空系統(tǒng)，可同時清潔真空腔室和樣品！ 產(chǎn)品型號：EM-KLEEN 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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Tergeo-EMTergeo-EM樣品桿清潔等離子清洗機 簡單介紹：品牌：PIE 型號：Tergeo EM Tergeo EM型樣品桿清潔等離子清潔儀 *的雙清洗模式（immersion和downstream）能夠處理各種不同的樣品，從嚴重污染的電子光學(xué)孔徑光闌到各種脆弱易損樣品，如石墨烯、碳納米管、類金剛石碳膜以及多孔碳支持膜銅網(wǎng)上的TEM樣品。石英樣品托板上的孔洞可以安裝標準SEM樣品托。特別設(shè)計的適配器可以清潔不同廠家的TEM樣品桿。 產(chǎn)品型號：Tergeo-EM 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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Tergeo-EMTEM透射電鏡等離子清洗機 簡單介紹：專為去除SEM & TEM樣品的碳氫污染而設(shè)計。*的雙清洗模式（immersion和downstream）能夠處理各種不同的樣品，從嚴重污染的電子光學(xué)孔徑光闌到各種脆弱 產(chǎn)品型號：Tergeo-EM 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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Tergeo EMSEM掃描電鏡等離子清洗機 簡單介紹：Tergeo EM型SEM及TEM樣品/樣品桿清潔等離子清潔儀 美國PIE Scientific專注研發(fā)*實驗室用等離子儀器，用于SEM/TEM樣品清潔、光刻膠蝕刻、等離子體增強沉積、表面處理與活化。我們的宗旨是：將半導(dǎo)體和核工程研究中開發(fā)的等離子技術(shù)集成到經(jīng)濟實用的實驗室用等離子儀器。 產(chǎn)品型號：Tergeo EM 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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FR-Scanner掃描型薄膜在線測厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。 產(chǎn)品型號：FR-Scanner 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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FR-pRo基礎(chǔ)型膜厚儀（紫外/近紅外-高分辨率） 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。 產(chǎn)品型號：FR-pRo 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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FR-portable便攜式光學(xué)膜厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。 產(chǎn)品型號：FR-portable 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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FR-uProbe微米級光學(xué)薄膜測厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精 產(chǎn)品型號：FR-uProbe 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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Colibri大氣壓等離子表面處理儀 簡單介紹：Colibr大氣壓等離子表面處理儀，專為表面清潔，改性和活化而設(shè)計。 它可以在不同的材料上運行，如金屬，塑料，陶瓷，紙張等。 用戶友好的控制界面使Colibrì成為小型生產(chǎn)或研發(fā)環(huán)境的簡單通用解決方案。 產(chǎn)品型號：Colibri 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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Heron80Heron80全自動化等離子清洗系統(tǒng) 簡單介紹：Heron80系列全自動化等離子表面處理系統(tǒng)應(yīng)用于小型生產(chǎn)以及研發(fā)實驗室使用。Heron 80是一款獨立式等離子系統(tǒng)，專為表面清潔，改性，活化和蝕刻而設(shè)計。它可以在不同的材料上運行，如金屬，塑料，陶瓷，紙張等。用戶友好的圖形界面與高效的射頻系統(tǒng)相結(jié)合，使Heron 80成為小型生產(chǎn)或研發(fā)環(huán)境的簡單通用解決方案。 產(chǎn)品型號：Heron80 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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PlasmaDyne Pro 1000SPlasmaDyne Pro 1000S大氣等離子體處理系統(tǒng) 簡單介紹：PlasmaDyne Pro 1000s Treating System 大氣等離子體處理系統(tǒng) 采用大氣等離子技術(shù)處理各種表面，如塑料，橡膠，玻璃，金屬，紙板和復(fù)合材料。大氣等離子體清洗去除雜質(zhì)及表面有機污染物并改變基質(zhì)分子結(jié)構(gòu)，重新構(gòu)造表面的化學(xué)性質(zhì)，從而在基材與粘合劑，涂料，層壓材料，涂料和油墨之間形成強大的粘合，提高表面能量。 產(chǎn)品型號：PlasmaDyne Pro 1000S 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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