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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAY-XUL和XULM系列儀器是電鍍中快速測定涂層厚度的合適解決方案。在那里，大量樣品必須盡可能有效地通過質量控制。因此，XUL系列的設計使笨重的樣品能夠手動放置在測量室中。還可以選擇手動XY載物臺，方便小零件的精確對齊。該裝置前部的直觀控制面板進一步簡化了操作。FISCHERSCOPEX-RAYXUL系列允許測量直徑為0.5毫米的點。這使得堅固的儀器非常適合測量螺母、螺釘和其他電鍍表面。該儀器的許多常見應用是在防腐行業。連接器、觸點、電線和PCB
三豐小型表面粗糙度儀SJ-220是一款集眾多優點于一身的測量儀器。它在繼承SJ-210優點的基礎上，進行了升級，為用戶帶來新的粗糙度測量體驗。三豐便攜式粗糙度儀SJ-220身材小巧，便于攜帶和操作，無論是在實驗室還是在生產現場，都能輕松應對各種測量需求。其操作簡便，即使是沒有測量經驗的用戶，也能快速上手。該儀器配備了2.8英寸超大觸摸屏，操作更加直觀簡單。超大觸摸屏不僅顯示清晰，而且響應迅速，讓用戶能夠輕松設置測量參數、查看測量結果。此外，三豐SJ-220還新增了對ISO21920標準的支持，使
菲希爾XULM240FISCHER代理核心測量性能菲希爾X射線測厚儀XULM240寬泛量程與高精度可測量從超薄鍍層（如50nm金層）到厚鍍層（如100μm錫層）標準校準下精度達±5%（如Au層＞0.1μm時），無校準模式精度±10%重復精度優異，例如80nm金層的重復性誤差僅±2.5nm微區測量能力微聚焦X射線管設計，最小測量點達100μm（0.09×0.09mm2），適合連接器、PCB微線路等微小結構比例計數器支持高達數千cps的計數率，提升測量效率多層與合金分析支持單層、雙層（含合金層）、三
菲希爾X射線GOLDSCOPESD特點緊湊耐用設計采用臺式設計，結構緊湊且堅固，適合長期使用，符合EN61010、DINISO3497和ASTMB568等國際標準。X射線熒光技術優化硬件和軟件專為黃金及貴金屬分析優化，采用X射線熒光（XRF）技術，無需樣品制備，實現無損、快速（典型測試時間5秒）且高精度分析。型號與探測器差異SD510/SD515：配備硅PIN探測器，適合快速檢測，適用于當鋪、黃金買賣和小型實驗室。SD520/SD550：配備硅漂移探測器（SDD），分辨率更高（≤180eV），尤
菲希爾FISCHERSCOPEX-RAYXDL220的典型應用包括以下領域：測量大規模生產的電鍍部件：如汽車零部件、電子接插件等，適用于質量控制場景。測量薄鍍層：例如裝飾性鍍鉻層（如首飾、衛浴配件），可精確檢測亞微米級厚度。功能性鍍層分析：在電子工業中測量金、鎳、錫等鍍層厚度，確保導電性和耐腐蝕性（如半導體封裝、PCB板鍍層）。全自動測量：通過馬達驅動的X-Y平臺和可編程Z軸，實現印刷線路板等復雜樣品的自動化批量檢測。電鍍溶液成分分析：直接檢測溶液中金屬離子濃度，優化電鍍工藝參數
菲希爾XDL230主要技術指標：（標★為重要參數）1、FISCHER代理測量原理：X射線熒光光譜法測量鍍層厚度2、測量方式：無損檢測，可自動聚焦3、元素測量范圍:Cl（17）--U（92），zui多可測量24種元素23層鍍層?！?、手動X/Y平臺,移動范圍≥95x150mm,可用工作臺面≥420x450mm5、電動Z軸，手動/自動聚焦，可移動范圍≥140mm★6、FISCHERXDL230采用DCM（測量距離補償法）可遠距離對焦測量腔體樣品，可達80mm深度★7、滿足可變高壓30KV,40KV,
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICDUO測量原理金剛石測針與驅動裝置采用耐磨的金剛石測針部件和精密機動驅動裝置，確保測針沿被測表面水平移動時行進距離的準確性。壓電傳感與信號轉換當測針劃過表面波峰和波谷時，高靈敏度壓電傳感器會檢測測針的垂直位移，并將機械運動轉換為電信號。數字化處理與參數計算電信號經數字化處理后傳輸至微處理器，通過標準化算法（如ISO4287）即時計算出Ra、Rz、Rp、Rv、Rt等粗糙度參數。泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICDUO其他核心功能與技術特點藍牙無線通信驅動裝置與
