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篤摯儀器（上海）有限公司
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API激光干涉儀擁有豐富的產品系列，以滿足不同用戶的多樣化需求。其中，1D激光干涉儀主要用于測量定位誤差，為基礎的線性位移測量提供高精度數據支持；3D激光干涉儀則在此基礎上，能夠測量定位誤差以及直線度誤差（雙向），適用于對平面度和直線度要求較高的測量任務，如精密導軌的檢測；5D/6D激光干涉儀功能更為強大，除了定位誤差和直線度誤差測量外，還能同時測量偏擺角、俯仰角和滾動角，一次安裝便可全面獲取線性軸的多個誤差參數，極大提高了測量效率和全面性，在多軸聯動設備的校準中發揮著重要作用。機床校準與性能優
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菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀基于X射線熒光分析原理。當儀器發射的X射線照射到樣品表面時，鍍層及基體材料中的原子會吸收X射線的能量，使內層電子被激發并躍遷到高能級。當這些電子回到低能級時，會釋放出具有特定能量的熒光X射線。不同元素發射的熒光X射線能量不同，通過檢測這些熒光X射線的能量和強度，結合儀器內置的校準曲線和算法，就可以精確測量出鍍層的厚度以及元素組成。一）高精度測量菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀采用先進的探測器和信號處理技術，能夠實現對鍍層厚度的高精度測量。其測量精度可以達到微米甚至納米級別，能
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為什么要測量光澤度？質量控制與產品一致性光澤度是評價產品外觀質量的核心指標，尤其在汽車涂料、家具、塑料、金屬、印刷品等行業中。通過測量可確保同一批次產品光澤度的一致性，避免因表面處理差異導致的質量問題。例如，陶瓷地磚需控制光澤度范圍，過高易反光泄露隱私，過低則顯得低檔。客觀評估替代主觀判斷人眼對光澤的感知易受環境、角度及個體差異影響，存在主觀誤差。使用光澤度儀可提供標準化、可重復的數值化結果，消除主觀性。例如，BYK4563等儀器具備自動校準功能，確保測量精度。檢測表面缺陷與工藝問題光澤度異常可
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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAY-XUL和XULM系列儀器是電鍍中快速測定涂層厚度的合適解決方案。在那里，大量樣品必須盡可能有效地通過質量控制。因此，XUL系列的設計使笨重的樣品能夠手動放置在測量室中。還可以選擇手動XY載物臺，方便小零件的精確對齊。該裝置前部的直觀控制面板進一步簡化了操作。FISCHERSCOPEX-RAYXUL系列允許測量直徑為0.5毫米的點。這使得堅固的儀器非常適合測量螺母、螺釘和其他電鍍表面。該儀器的許多常見應用是在防腐行業。連接器、觸點、電線和PCB
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三豐小型表面粗糙度儀SJ-220是一款集眾多優點于一身的測量儀器。它在繼承SJ-210優點的基礎上，進行了升級，為用戶帶來新的粗糙度測量體驗。三豐便攜式粗糙度儀SJ-220身材小巧，便于攜帶和操作，無論是在實驗室還是在生產現場，都能輕松應對各種測量需求。其操作簡便，即使是沒有測量經驗的用戶，也能快速上手。該儀器配備了2.8英寸超大觸摸屏，操作更加直觀簡單。超大觸摸屏不僅顯示清晰，而且響應迅速，讓用戶能夠輕松設置測量參數、查看測量結果。此外，三豐SJ-220還新增了對ISO21920標準的支持，使
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菲希爾XULM240FISCHER代理核心測量性能菲希爾X射線測厚儀XULM240寬泛量程與高精度可測量從超薄鍍層（如50nm金層）到厚鍍層（如100μm錫層）標準校準下精度達±5%（如Au層＞0.1μm時），無校準模式精度±10%重復精度優異，例如80nm金層的重復性誤差僅±2.5nm微區測量能力微聚焦X射線管設計，最小測量點達100μm（0.09×0.09mm2），適合連接器、PCB微線路等微小結構比例計數器支持高達數千cps的計數率，提升測量效率多層與合金分析支持單層、雙層（含合金層）、三
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菲希爾X射線GOLDSCOPESD特點緊湊耐用設計采用臺式設計，結構緊湊且堅固，適合長期使用，符合EN61010、DINISO3497和ASTMB568等國際標準。X射線熒光技術優化硬件和軟件專為黃金及貴金屬分析優化，采用X射線熒光（XRF）技術，無需樣品制備，實現無損、快速（典型測試時間5秒）且高精度分析。型號與探測器差異SD510/SD515：配備硅PIN探測器，適合快速檢測，適用于當鋪、黃金買賣和小型實驗室。SD520/SD550：配備硅漂移探測器（SDD），分辨率更高（≤180eV），尤
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菲希爾FISCHERSCOPEX-RAYXDL220的典型應用包括以下領域：測量大規模生產的電鍍部件：如汽車零部件、電子接插件等，適用于質量控制場景。測量薄鍍層：例如裝飾性鍍鉻層（如首飾、衛浴配件），可精確檢測亞微米級厚度。功能性鍍層分析：在電子工業中測量金、鎳、錫等鍍層厚度，確保導電性和耐腐蝕性（如半導體封裝、PCB板鍍層）。全自動測量：通過馬達驅動的X-Y平臺和可編程Z軸，實現印刷線路板等復雜樣品的自動化批量檢測。電鍍溶液成分分析：直接檢測溶液中金屬離子濃度，優化電鍍工藝參數
