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TEM-STM樣品桿系列

產品介紹

TEM-STM測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。在進行原位操縱的同時利用透射電鏡及相關附件實時動態地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

產品特色

1.電學測量指標

電流測量范圍: 1 nA - 30 mA，多個量程

電流分辨率: 優于100 fA

電壓輸出范圍:普通模式 ± 10 V，高壓模式 ± 150 V

自動I-V測量、l-t 測量，自動保存

可外接第三方源表滿足多種實驗需求

包含一個電流電壓測試單元

2.掃描探針操縱指標

粗調范圍: XY 方向 2.5 mm，Z 方向1.5 mm

細調范圍: XY 方向15 μm，Z 方向1.5 μm

細調分辨率: XY 方向0.4 nm，Z 方向0.04 nm

粗細調均為軟件控制

拓展產品

基于TEM-STM測量系統，研究人員還可選擇掃描探針與多種外場耦合的原位測量系統：

AFM力電測量系統                       光電測量系統                           低溫電學測量系統

納牛級力學傳感器                        雙向光纖輸出                           液氮低溫制冷

力學曲線輸出                               光電流測量                              低溫下電學測量

力-電同時測量                             光譜分析                                  低溫下力學操縱

高溫電學測量系統                       高溫力學測量系統                     多場原位測量系統

芯片式加熱                                 芯片式加熱                               芯片式加熱/加電

熱-電耦合                                   熱-力耦合                                 集成雙向光纖

高溫下力學操縱                          力學曲線輸出                            熱-電-力-光多場耦合

應用案例

PbTiO3/SrRuO3 界面處的三重極化                           電場作用下混合型疇結構到單一型疇結構的轉變

頂點的電場調控

部分產品精選

原位低溫TEM-STM測量系統、原位MST一體化測量系統、原位真空傳輸TEM-STM測量系統、

原位光學TEM-STM測量系統、原位雙傾TEM-STM測量系統