臺式掃描電鏡能譜一體機 參考價：面議
ZEM系列電鏡能譜一體機兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環境，只需找一張桌子，供電即可工作。
超高真空微型光柵尺 參考價：面議
超高真空微型光柵尺SMG26特點，體積小，結構緊湊，適用于超高真空使用，良好的耐高溫性，最高可達100℃，SMG26系列光柵的柵距為256μm，下表為不同細分倍...
納米壓電旋轉位移臺 參考價：面議
澤攸科技位移臺作為國產精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅動技術實現了亞納米級運動精度與宏觀行程的突破性結合，解決了傳統設備在分辨率和行程范圍上的技術瓶頸。其核心設計...
納米壓電旋轉位移臺 參考價：面議
澤攸科技位移臺作為國產精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅動技術實現了亞納米級運動精度與宏觀行程的突破性結合，解決了傳統設備在分辨率和行程范圍上的技術瓶頸。其核心設計...
納米壓電旋轉位移臺 參考價：面議
澤攸科技位移臺作為國產精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅動技術實現了亞納米級運動精度與宏觀行程的突破性結合，解決了傳統設備在分辨率和行程范圍上的技術瓶頸。其核心設計...
臺式掃描電鏡 參考價：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃碼電鏡 參考價：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該...
澤攸科技 參考價：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM20臺式掃描電鏡原位拉伸一體機由澤攸科技生產，具備高分辨率和多功能特性。其加速電壓范圍為3kV至20kV，可進行1kV步進調整，最高放大倍率為36萬倍，分...
二維材料轉移系統 參考價：面議
二維材料轉移系統，可用于機械解理的各種二維材料的轉移及二維材料范德華異質結的堆疊，尤其適用于二維材料的精準轉角調控。樣品可以多方向多角度的相對移動，大氣環境下也...
全電動二維材料轉移臺 參考價：面議
全電動二維材料轉移臺2DTrans-ams-03，是專為解決手動轉移過程中由手的抖動帶來的這一不良結果，并充分還原手動轉移過程中的手感與操作方式，給予更好的準確...
干式液氦溫區探針臺 參考價：面議
澤攸科技干式液氦溫區探針臺是一款專為樣品非破壞性檢測和真空潔凈環境設計的高精度測試設備，廣泛應用于直流（DC）、射頻（RF）、MEMS、納米電子、超導性、量子點...
低溫液氮探針臺 參考價：面議
低溫液氮探針臺是一種先進的科研設備，專門用于在低溫環境下對半導體器件、微納材料以及電子元件進行高精度的電學性能測試。它通過液氮制冷系統為樣品提供超低溫環境，確保...
手動臺階儀 參考價：面議
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產高精度表面測量設備的代表，憑借其創新的技術架構、靈活的應用場景及可靠的測量性能，在半導體制造、材料科學、微納技術等領域展現了顯著優...
全自動臺階儀 參考價：面議
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產高精度表面測量設備的代表，憑借其創新的技術架構、靈活的應用場景及可靠的測量性能，在半導體制造、材料科學、微納技術等領域展現了顯著優...
半自動臺階儀 參考價：面議
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產高精度表面測量設備的代表，憑借其創新的技術架構、靈活的應用場景及可靠的測量性能，在半導體制造、材料科學、微納技術等領域展現了顯著優...
臺式掃描電鏡 參考價：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃描電鏡 參考價：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該...
TEM-STM樣品桿系列 參考價：面議
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術的創新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學研究提供了全新的視角和手段。該系列產品將掃描探針控制單元...
臺式掃描電鏡 參考價：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業領域微觀分析的重要工具。該...
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