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菲希爾自動化測量如何實現

時間:2022/4/5閱讀:695
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菲希爾自動化測量如何實現

菲希爾自動化測量如何實現

FISCHERSCOPE X-射線 XDL和XDLM光譜儀與 XUL 系列密切相關。主要組件(例如探測器,X射線管和濾波器組合)是相同的,但兩者有一個顯著的區別:XDL和XDLM設備是從上到下進行測量,這意味著可以方便地分析非平面樣品-復雜形狀不再是難題!

自上而下的測試方式還有另一個優點:可以很容易地實現自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可編程的樣品臺,非常適合掃描樣品表面。 因此,您可以檢查較大部件上的鍍層厚度,或自動逐個測量大量的小部件。

與XUL系列一樣,XDLM中的“ M"代表“微聚焦管"。 這意味著這些設備特別適合分析小樣品。 XDLM的測量點直徑僅為0.1毫米,非常適合電子行業。

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