FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從
大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。
比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。zui多可同時(shí)測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
?測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
?測量薄鍍層，例如裝飾鉻
?測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
?全自動測量，如測量印刷線路板
?分析電鍍?nèi)芤?/p>
