當前位置:德國韋氏納米系統(香港)有限公司>>KLA/科磊>>薄膜厚度測量儀>> KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 50萬-100萬 |
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應用領域 | 化工,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統專門為了微小視野及微小樣品測量設計, 任何人從一線操作到研&發人員都可以此簡易USB供電系統在數秒鐘內測量如聚對二甲苯和真空鍍膜層厚度.
我們KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統自動校正功能大幅縮短測量設置並可自動調節儀器的靈敏度, 使用免手持測量模式時, 只需簡單地將樣品面朝下放置在平臺上測量樣品 , 此時該系統已具備可測量數百種膜層所必要的一切設置不管膜層是否在透明或不透明基底上.
可選配FILMeasure厚度測量軟件使厚度測量就像在平臺上放置你的樣品一樣容易, 軟件內建所有常見的電介質和半導體層(包括C,N和HT型聚對二甲苯)的光學常數(n和k),厚度結果會及時的以直覺的測量結果顯示對于進階使用者,可以進一步以F3-CS測量折射率, F3-CS可在任何運行Windows XP到 Windows8 64位作業系統的計算機上運行, USB電纜則提供電源和通信功能.
USB供電之光譜儀/光源裝置
FILMeasure 8 軟件
內置樣品平臺
BK7 參考材料
四萬小時光源壽命
型號 | 厚度范圍 | 波長范圍 |
F3-CS | 15nm-70μm | 380-1050nm |
F3-CS-UV | 3nm-40μm | 190-1100nm |
F3-CS-NIR | 100nm-250μm | 950-1700nm |
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