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當前位置：德國韋氏納米系統（香港）有限公司>>KLA/科磊>>薄膜厚度測量儀>> KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 50萬-100萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀現在可以很容易地測量曲面樣品，包括眼鏡和其他光學鏡片的防反射涂層, 僅需其他設備一小部分的的價格就能在幾秒內得到精確的色彩讀值和反射率測量. 您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件, 操作上并不需要嚴格的訓練, 您甚至可以直覺的藉由設定任何波長范范圍最大, 最小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標準.
只需將KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀插上到您計算機的USB端口, 感謝Filmetrics的創新, F10-ARc 幾乎不存在停機時間, 加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準，你不需擔心維護問題。
自動基準功能大大增加基準間隔時間, 量測準確性優於其他光纖探頭反射測量系統5倍
可選擇UPG - F10-AR - HC軟件升級測量0.25-15μm硬涂層的厚度. 即使在防反射涂層存在時仍可測量硬涂層厚度
我們探頭設計可排除98％背面反射,當鏡片比1.5mm 更厚時, 可排除比例更高
修正了硬膜層造成的局部反射扭曲現象
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